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菲希爾X射線測(cè)厚儀、XAN215

菲希爾X射線測(cè)厚儀、XAN215

簡(jiǎn)要描述:
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更新時(shí)間:2024-08-27

訪問(wèn)量:368

廠商性質(zhì):經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址:

品牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾價(jià)格區(qū)間面議
產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,制藥,綜合

菲希爾X射線測(cè)厚儀、XAN215

FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級(jí)能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測(cè)厚儀,通常用于對(duì)珠寶、錢幣和貴金屬等進(jìn)行無(wú)損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度,從元素氯(17)到鈾(92),可同時(shí)測(cè)定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,菲希爾X射線測(cè)厚儀,Fischer代理減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。Si-PIN的基本參數(shù)法,可以在沒(méi)有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

通用規(guī)格
設(shè)計(jì)用途

采用能量色散型X射線熒光光譜法(EDXRF),

用以分析貴金屬及其合金的成分以及測(cè)量鍍層的厚度

元素范圍從元素氯(17)到鈾(92),可同時(shí)測(cè)定24種元素。
重復(fù)性測(cè)量金元素時(shí)≤1‰,測(cè)量時(shí)間60秒
形式設(shè)計(jì)臺(tái)式儀器,測(cè)量門向上開(kāi)啟
測(cè)量方向由下往上


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