XDLM231菲希爾X射線測厚儀信息

　　FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設(shè)計(jì)，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗(yàn)和生產(chǎn)監(jiān)控的最合適的測量儀器。

　　FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設(shè)計(jì)為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預(yù)期用途，有不同的版本。 XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降系統(tǒng)。

　　XDLM 232 型配有可手動(dòng)操控的 X/Y 工作臺，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 Z 軸升降系統(tǒng)。

　　XDLM 237 型則配備了馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的 X/Y 工作臺，當(dāng)保護(hù)門開啟時(shí)，工作臺會(huì)自動(dòng)移到放置樣品的位置。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。