更新時間:2024-06-24
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廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,制藥,綜合 |
Fischer鍍層測厚儀菲希爾
X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀,配有可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺,用于自動測量超薄鍍層厚度或進(jìn)行痕量分析。
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線鍍層測厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經(jīng)行痕量分析。其配備了高精度、可編程運(yùn)行的 X/Y 軸工作臺,是全自動測量樣品的理想設(shè)備。
XDV-SDD菲希爾X射線鍍層測厚儀設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器。它配備了高精度、可編程運(yùn)行的X/Y軸工作臺和馬達(dá)驅(qū)動的Z軸升降臺。當(dāng)具有防護(hù)功能的測量門開啟時,樣品臺能自動移出到放置樣品的位置。通過激光點(diǎn),可以快速對準(zhǔn)需要測量的位置。儀器內(nèi)置帶有圖像放大及十字線功能的視頻系統(tǒng),簡化了樣品放置的過程,并可對測量點(diǎn)位置進(jìn)行精確微調(diào)。