X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222

簡要描述：

X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222,XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni，Au/PdNi/Ni，Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準(zhǔn)直器或適合樣品形狀的準(zhǔn)直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準(zhǔn)直器以獲得zui大的信號強(qiáng)度。

更新時間：2024-04-13

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

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產(chǎn)品介紹：

品牌	Helmut Fischer/德國菲希爾	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,制藥,綜合

X射線測厚儀Fischerscope X-ray XAN222

FISCHERSCOPE X-RAY XAN220/222X射線熒光測量儀商品特點

菲希爾X射線測厚儀Fischer代理為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計
菲希爾X射線測厚儀Fischer代理配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片，特別適用于貴金屬分析
菲希爾X射線測厚儀Fischer代理配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，適用于更復(fù)雜的多元素分析
由下至上的測量方向，可以簡便地實現(xiàn)樣品定位

FISCHERSCOPE X-RAY XAN220/222 X射線熒光測量儀商品應(yīng)用

在珠寶和鐘表行業(yè)中的黃金和貴重金屬分析
牙科行業(yè)中的材料合金分析

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