XDAL237菲希爾X射線測(cè)厚儀

區(qū)別在于使用的探測(cè)器類(lèi)型不同。在德國(guó)菲希爾XDAL X射線熒光測(cè)厚儀使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測(cè)器，從而有了遠(yuǎn)好于XDLM使用的比例計(jì)數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺(tái)儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測(cè)量薄鍍層厚度。

無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾X射線源是一個(gè)能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而，由于相對(duì)較小的探測(cè)器有效接收面積（相比較比例計(jì)數(shù)器探測(cè)器來(lái)說(shuō)），信號(hào)強(qiáng)度低，故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測(cè)量點(diǎn)的測(cè)量。和XDLM類(lèi)似，準(zhǔn)直器和基本濾片是可自動(dòng)切換，以便為不同測(cè)量程式創(chuàng)造的激勵(lì)條件。

德國(guó)菲希爾FISCHERSCOPE XDAL X射線熒光測(cè)厚儀的測(cè)量空間寬大，菲希爾X射線測(cè)厚儀無(wú)錫駿展儀器供應(yīng)可以用于測(cè)量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動(dòng)可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置zui高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計(jì)可以方便地測(cè)量諸如印刷線路板等大平面樣品。

菲希爾X射線測(cè)厚儀FISCHERSCOPE XDAL237測(cè)量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺(tái)，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面。此外，在如引線框架等樣品上進(jìn)行多點(diǎn)測(cè)量，或是在多個(gè)不同樣品上進(jìn)行批量測(cè)量，都可以通過(guò)快速編程自動(dòng)化地完成。

由于XY平臺(tái)在艙門(mén)打開(kāi)時(shí)，能自動(dòng)彈出到加載樣品位置，故而樣品放置定位變得十分簡(jiǎn)便。激光點(diǎn)標(biāo)示處就是樣品的測(cè)量位置。