更新時(shí)間:2024-09-12
訪問(wèn)量:221
廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
生產(chǎn)地址:
品牌 | TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,綜合 |
泰勒霍普森、粗糙度儀DUO
泰勒霍普森便攜式儀器SURTRONIC DUO粗糙度測(cè)量?jī)x
型號(hào):SURTRONIC DUO
探頭系統(tǒng):探頭系統(tǒng)
表面粗糙度測(cè)量范圍:199μm,40μm
掃描路徑:5mm
表面粗糙度分辨率:0.01μm
閾值波長(zhǎng):0.8 mm
數(shù)據(jù)傳輸類型:USB
英國(guó)泰勒霍普森粗糙度測(cè)量裝置SURTRONIC DUO,具有內(nèi)部進(jìn)料單元的移動(dòng)粗糙度測(cè)量裝置,小巧便攜,通用功能,用戶友好的界面,適合地板等表面粗糙度測(cè)量。
應(yīng)用:
用戶友好的移動(dòng)粗糙度測(cè)量裝置,用于參數(shù)Ra,Rz,Rp,Rv,Rt,Rz1max,R3z(戴姆勒DB N 31007),Rsk,Rq和Rku的標(biāo)準(zhǔn)粗糙度測(cè)量。