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粗糙度儀SURTRONIC S100信息

  • 發(fā)布日期:2023-12-21      瀏覽次數(shù):742
    • 粗糙度儀SURTRONIC S100信息

      英國Taylor SURTRONIC S100系列便攜式粗糙度儀標(biāo)準(zhǔn)配置:

      泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S100主機、標(biāo)準(zhǔn)探頭、校準(zhǔn)塊、USB充電器、通訊電纜、儀器箱

      泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC S100可選探頭:

      標(biāo)準(zhǔn)探頭:用于一般測量

      小孔探頭:用于小孔槽和狹小平面

      小槽探頭:測量深大5.5mm的O型環(huán)槽和狹槽

      直角探頭:在與行程方向成直角的方向上測量

      溝槽探頭:測量深大5.7mm和25mm的溝槽底部或臺階底部

      斧形探頭:測量尖刃或細(xì)線,不用于大平面

      側(cè)面導(dǎo)塊探頭:用于測量例如齒面等曲面

      靴形探頭:用于測量較粗糙的表面,特別是采用2.5mm取樣長度時

      其他可選配件:

      便攜式打印機、各種支架


    蘇公網(wǎng)安備32021402002648