泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116產(chǎn)品簡介
泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116測試參數(shù):
Surtronic S116三個取樣長度:0.25mm、0.8mm、2.5mm
Surtronic S116二個濾波器:2CR、Gaussian
Surtronic S116評定長度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可選
大行程:17.5mm
測試速度:
測試速度:1mm/sec(0.04 in/sec)
回程速度:1.5mm/sec(0.06in/sec)
測試參數(shù):
執(zhí)行標準:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO標準可以測量12個參數(shù): Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME標準可以測量11個參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS標準可以測量14個參數(shù):Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc
其他 :R3z (Daimler Benz)
測試單位:um/uin